大型复杂电子系统的紧缩可靠性试验解决方案

• 作者: 汪凯蔚 沈峥嵘 马跃进 黄永华
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 紧缩系统 可靠性试验方案 复杂电子系统
• 年，卷（期）: 2019,（4）
• 所属期刊栏目: 可靠性与环境适应性理论研究
• 页码范围: 6-10
• 页数: 5页
• 分类号: TB114.3
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2019.04.002

摘要

讨论了一类组成复杂、组件之间独立工作、组件的失效率不随系统规模变化的大型系统的紧缩可靠性试验解决方案,通过严格的数学推导,证明了该紧缩系统试验方案与全系统开展试验是完全等效的.该方案弥补了基于可靠性分配的可靠性试验方案的不足,给出了紧缩系统的紧缩原则,实现了通过紧缩系统试验直接评价全系统可靠性水平的目标,具有一定的工程应用价值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	汪凯蔚		6	18	2.0	4.0
2	沈峥嵘		9	31	4.0	5.0
3	黄永华		3	0	0.0	0.0