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电子产品可靠性与环境试验期刊
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基于紧缩系统的可靠性验证试验方法探讨
基于紧缩系统的可靠性验证试验方法探讨
作者:
许彦鑫
陆培永
原文服务方:
电子产品可靠性与环境试验
紧缩系统
可靠性
鉴定
摘要:
针对大型的复杂系统难以开展实验室可靠性验证的实际现状,结合实例,介绍了一种基于紧缩系统的试验方法,同时分析了该方法面临的同题并给出了建议.
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考核指标
大型复杂电子系统的紧缩可靠性试验解决方案
紧缩系统
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复杂电子系统
含软件测试的可靠性试验方法探讨
可靠性
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内容分析
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文献信息
篇名
基于紧缩系统的可靠性验证试验方法探讨
来源期刊
电子产品可靠性与环境试验
学科
关键词
紧缩系统
可靠性
鉴定
年,卷(期)
2010,(2)
所属期刊栏目
可靠性工程管理
研究方向
页码范围
36-38
页数
分类号
TB24
字数
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1672-5468.2010.02.009
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
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G指数
1
陆培永
6
10
2.0
3.0
2
许彦鑫
1
3
1.0
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传播情况
被引次数趋势
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版权信息
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节点文献
紧缩系统
可靠性
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研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子产品可靠性与环境试验
主办单位:
工业和信息化部电子第五研究所(中国电子产品可靠性与环境试验研究所)
出版周期:
双月刊
ISSN:
1672-5468
CN:
44-1412/TN
开本:
大16开
出版地:
广州市增城区朱村街朱村大道西78号
邮发代号:
创刊时间:
1962-01-01
语种:
中文
出版文献量(篇)
2803
总下载数(次)
0
总被引数(次)
9369
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