X射线荧光光谱法测定红土镍矿中多种元素

• 作者: 华磊 彭南兰 李小莉 王学伟 陈芸平
• 来源期刊: $$中国无机分析化学
• 学科: 化学
• 关键词: X射线荧光光谱仪 红土镍矿 粉末压片 熔融片 多元素
• 年，卷（期）: 2012,（1）
• 所属期刊栏目: 冶金与材料
• 页码范围: 47-50
• 分类号: O657.34|TH744.15
• 字数: 1876字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.2095-1035.2012.01.0010

摘要

分别研究了采用压片、熔片两种制样方法,用X射线荧光光谱法(XRF)测定了红土镍矿中的9种元素.压片法重点研究了基体效应校正,经散射线作内标和经验系数法校正后,可准确测定除二氧化硅、氧化镁外的7种元素,方法简便、快速；而熔片法着重研究了熔剂和熔样温度的选择,经基体效应校正,各分析元素的结果准确度完全可与化学法相媲美,其相对标准偏差(RSD)在0.50％～3.00％间.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李小莉		31	382	11.0	18.0
2	王学伟		10	23	3.0	4.0
3	华磊		5	24	3.0	4.0
4	彭南兰		8	27	3.0	5.0
5	陈芸平		8	35	3.0	5.0