基于场景坏点检测的面阵CCD暗电流估计方法

• 作者: 程宣 赵慧洁
• 来源期刊: 光学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 成像系统 暗电流估计 CCD 坏点 均值滤波 抗噪性 图像采集
• 年，卷（期）: 2012,（4）
• 所属期刊栏目: 探测器
• 页码范围: 45-50
• 页数: 6页
• 分类号: TP212.1
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/AOS201232.0404002

摘要

利用CCD中的部分坏点作为温度敏感器,提取CCD温度估计值,建立温度估计值与暗电流的函数模型,并结合均值滤波的方法,在真实场景图像中提取CCD温度估计值,实现了面阵CCD的暗电流估计.在方法分析的基础上,以真实的暗电流数据为基准参考,对暗电流的估计结果进行了比对实验.实验结果表明,在不同的积分时间及大动态范围的成像条件下暗电流的估计结果十分准确,偏差小于0.4％,并且具有一定的抗噪性.该方法利用场景本身的特征信息对拍摄时刻的暗电流进行估计,不需要额外采集暗电流数据,节省了图像采集时间,十分适合于积分时间较长的高光谱成像或天文观测领域,采用无温度控制的低成本CCD成像探测系统进行实时图像采集.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	赵慧洁		99	856	16.0	25.0
2	程宣		9	125	5.0	9.0