MIMO-RFID系统反向识别距离研究

• 作者: 何怡刚 佘开 方葛丰 朱彦卿
• 来源期刊: 电子测量与仪器学报
• 学科: 工学
• 关键词: 射频识别 多天线 Nakagami-m信道 信噪比 反向识别距离
• 年，卷（期）: 2012,（4）
• 所属期刊栏目: 学术论文
• 页码范围: 305-311
• 分类号: TN015
• 字数: 4269字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3724/SP.J.1187.2012.00305

摘要

超高频(UHF)射频识别系统(RFID)读取可靠性受多径信道制约,而多天线分集技术(MIMO)被认为能有效提高其链路可靠性.不同于一般的无线通信系统,UHF RFID反向链路是两个多径信道的级联,本文基于最大比合并(MRC)准则,分阅读器单站和双站天线情形,导出了Nakagami-m多径信道下单天线(SISO)与多天线(MIMO)RFID系统反向识别距离(RIR)均值的解析表达式,并通过数值仿真和实际测试研究了相关因素对RIR均值的影响.实验结果表明:MIMO技术能有效提高多径信道下UHF RFID系统的反向识别距离,并且阵列天线数越多、信道相关系数越小、信道衰落参数m越大,RIR均值将越高.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	何怡刚	湖南大学电气与信息工程学院	426	5127	34.0	51.0
2	方葛丰	中国电子科技集团公司第41研究所电子测试技术国防科技重点实验室	11	89	5.0	9.0
3	朱彦卿	湖南大学电气与信息工程学院	22	358	10.0	18.0
4	佘开	湖南大学电气与信息工程学院	9	128	6.0	9.0