基片与多形态缺陷粒子的复合光散射

• 作者: 吴振森 巩蕾 白璐
• 来源期刊: 强激光与粒子束
• 学科: 工学
• 关键词: 复合光散射 半空间方法 缺陷粒子 基片
• 年，卷（期）: 2012,（11）
• 所属期刊栏目: 粒子束技术
• 页码范围: 2731-2734
• 页数: 4页
• 分类号: TN25
• 字数: 2595字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/HPLPB20122411.2731

摘要

为了给基片无损检测工程提供强有力的理论基础,提出三种形态的缺陷粒子散射模型.针对基片与缺陷粒子的半空间问题,吸收边界使用了广义完全匹配吸收层,结合三波技术引入激励源给出相应的连接边界条件并将互易性定理应用到近远场外推中使过程简化.数值计算给出了镶嵌于基片中的多种几何体Cu和SiO2缺陷粒子的散射场的角分布及p偏振和s偏振下镶嵌Cu球体粒子的电场分布.结果显示:角分布和场分布跟粒子形态关系密切.椭球体散射场的震荡明显比柱体场震荡激烈.在s偏振下电场强度分布差值极小,不利于通过分析场值分布特点反演缺陷特征值.因此建议工程上使用p偏振光对基片进行无损检测.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴振森	西安电子科技大学理学院	346	3545	28.0	39.0
2	巩蕾	西安工业大学光电工程学院	20	53	5.0	6.0
3	白璐	西安电子科技大学理学院	21	118	6.0	10.0