背光成像技术测量冷冻靶参数研究进展

• 作者: 周晓松 尹剑 彭述明 李海容 龙兴贵
• 来源期刊: 原子能科学技术
• 关键词: 背光成像 冷冻靶 冰层厚度 折射率
• 年，卷（期）: 2012,（7）
• 所属期刊栏目: 技术及应用
• 页码范围: 850-854
• 分类号: O435.1
• 语种: 中文

摘要

建立了可见光背光成像装置,测量距离实现了4～30 cm可调,对应分辨率为0.7～4.6 μm,并可对样品仓内的冷冻靶进行有效的中心定位,定位精度达0.1 mm,获得了不同分辨率下的塑料靶球与玻璃靶球的背光影像.通过获得背光图像的能量密度图及靶球的光路追踪模型,建立了靶球内部DD/DT冰层厚度的精确测量及计算方法.研究发现,将背光成像技术与干涉条纹法相结合可获得一种无损测量透明聚变靶丸材料折射率的方法.结果表明,背光成像技术是透明冷冻靶有效的诊断方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	龙兴贵	中国工程物理研究院核物理与化学研究所	123	496	10.0	16.0
2	彭述明	中国工程物理研究院核物理与化学研究所	97	341	10.0	14.0
3	李海容	中国工程物理研究院核物理与化学研究所	15	18	2.0	3.0
4	周晓松	中国工程物理研究院核物理与化学研究所	39	89	5.0	6.0
5	尹剑	中国工程物理研究院核物理与化学研究所	5	8	2.0	2.0