基于量子元胞自动机的PLA故障分析和检测

• 作者: 张明亮 李政操 杨晓阔 蔡理 陈祥叶
• 来源期刊: 微纳电子技术
• 学科: 工学
• 关键词: 量子元胞自动机(QCA) 可编程逻辑阵列(PLA) 故障分析 故障检测 逻辑电路
• 年，卷（期）: 2012,（9）
• 所属期刊栏目: 器件与技术
• 页码范围: 571-576
• 分类号: O471.1|TN4
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-4776.2012.09.002

摘要

量子元胞自动机(quantum-dot cellular automata,QCA)可编程逻辑阵列(programmable logic array,PLA)结构可用于实现大规模可编程逻辑电路.分析了4种故障类型发生在PLA单元的8个区域中的影响,得出了具体的影响效果.其中,直接或间接致使隐含线和与门发生逻辑错误的故障均会导致PLA中故障所在行整行失效,其他故障只会影响故障所在的PLA 单元的逻辑功能和配置,而对PLA中的其他单元没有影响.此外,基于故障分析,提出了具体的PLA故障检测方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张明亮	空军工程大学理学院	24	46	4.0	5.0
2	杨晓阔	空军工程大学理学院	45	108	6.0	8.0
3	蔡理	空军工程大学理学院	136	382	8.0	11.0
4	李政操	空军工程大学理学院	12	35	4.0	5.0
5	陈祥叶	空军工程大学理学院	8	14	2.0	3.0