基于接触性检测的IC热阻测试新方法

• 作者: 宁永成
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 接触性测试 二极管 温度特性 热阻
• 年，卷（期）: 2012,（1）
• 所属期刊栏目: 计量与测试技术
• 页码范围: 10-13
• 分类号: TN304.07
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2012.01.003

摘要

热阻对于半导体器件,尤其是大功率器件的可靠性至关重要.基于集成电路接触性检测原理和二极管的温度特性,对54HC02和74HC02集成电路端口的保护二极管温度特性进行了测试实验,通过曲线拟合得到了其恒定正向电流条件下正向压降VF与温度T的线性函数关系式.测得集成电路在瞬态工作功耗下的正向压降,通过该函数关系式可得到对应的芯片温度,在已知功耗和环境温度的条件下可以计算出电路对环境的热阻θIA.使用该方法测试54HC02和74HC02分别为135℃/W和115℃/W,与手册给出的参考值122℃/W和112℃/W比较接近.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	宁永成		11	30	3.0	5.0