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摘要:
通常晶粒较大的样品无法采用常规X—ray衍射方法进行织构测试分析。针对粗晶薄带材样品,利用多片样品的侧面构造一个测试表面,从该组合面测得不完全极图并通过ODF计算和ODF转换计算的方法得到样品的晶粒取向信息,结果表明这种方法可以较好地解决粗晶薄带材样品的织构测试问题。
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文献信息
篇名 粗晶薄带材样品的织构测试
来源期刊 物理测试 学科 工学
关键词 织构 极图测试 取向分布函数 粗晶薄带材 X射线衍射
年,卷(期) 2012,(3) 所属期刊栏目 测试技术
研究方向 页码范围 35-37
页数 分类号 TG146.21
字数 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 王颖 北京北冶功能材料有限公司理化中心 19 0 0.0 0.0
2 胡小军 北京北冶功能材料有限公司理化中心 5 0 0.0 0.0
3 李丽敏 北京北冶功能材料有限公司理化中心 8 3 1.0 1.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
织构
极图测试
取向分布函数
粗晶薄带材
X射线衍射
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
物理测试
双月刊
1001-0777
11-2119/O4
大16开
北京市海淀区学院南路76号
1983
chi
出版文献量(篇)
2038
总下载数(次)
10
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