开口同轴探头去嵌入技术的研究

• 作者: 王国栋 花国良
• 来源期刊: 电子测量与仪器学报
• 学科: 工学
• 关键词: 电磁参数 开口同轴探头 去嵌入技术 误差模型
• 年，卷（期）: 2012,（11）
• 所属期刊栏目: 学术论文
• 页码范围: 982-986
• 页数: 5页
• 分类号: TM934.3
• 字数: 2340字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3724/SP.J.1187.2012.00982

摘要

开口同轴探头测量技术,由于可实现非破坏性测试,一直是众多科学家及工程技术人员关注的焦点.但对于同轴探头的误差分析,研究不够深入.相位补偿技术是最常用的同轴探头去嵌入技术,该技术假设同轴探头是理想器件,忽略了同轴探头加工精度带来的误差.为此,提出了一种更为精确的去嵌入技术,即基于传输线模型的开口同轴探头去嵌入技术,通过实测得到表征同轴探头误差的校准参量,从而量化同轴探头的误差模型,以去除在测量中同轴探头带来的误差.介绍了该技术的基本原理,并与相位补偿技术进行了对比,最终通过实测验证了该技术是有效可行的.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王国栋	北京交通大学电子信息工程学院电磁兼容实验室	22	206	8.0	14.0
2	花国良	北京交通大学电子信息工程学院电磁兼容实验室	1	3	1.0	1.0