Weibull分布下基于MAM的白光OLED寿命预测

• 作者: 张建平 成贵学 朱文清 汤勇奇 蒋晓锋 邬炯磊
• 来源期刊: 半导体光电
• 学科: 工学
• 关键词: 白光OLED 寿命预测 Weibull分布 图分析法
• 年，卷（期）: 2012,（1）
• 所属期刊栏目: 光电器件
• 页码范围: 26-29
• 分类号: TN873.3
• 语种: 中文

摘要

为了得到白光有机发光二极管（OLED）寿命信息,降低试验成本,开展了三组恒定电流应力加速寿命试验。采用Weibull函数描述其寿命分布,基于图分析法（MAM）和MATLAB绘制的Weibull概率双坐标纸,描点作图并估计形状参数和尺度参数,实现了白光OLED的寿命预测。数值结果表明,白光OLED样品在各加速应力下失效机理保持不变,加速模型满足逆幂定律,精确计算的加速参数使得OLED寿命快速估算成为可能。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	朱文清	上海大学新型显示技术及应用集成教育部重点实验室	91	721	14.0	17.0
2	张建平	上海电力学院能源与环境工程学院	86	357	9.0	15.0
3	成贵学	上海电力学院能源与环境工程学院	3	5	1.0	2.0
4	蒋晓锋		1	1	1.0	1.0
5	汤勇奇		2	2	1.0	1.0
6	邬炯磊	上海电力学院能源与环境工程学院	2	9	1.0	2.0