铜离子胁迫下玉米根边缘细胞数量及存活率

• 作者: 刘婷婷 张曦 施积炎 李锋 陈英旭
• 来源期刊: 植物生理学报
• 关键词: 铜 根边缘细胞 胁迫 玉米
• 年，卷（期）: 2012,（7）
• 所属期刊栏目: 研究报告
• 页码范围: 669-675
• 页数: 7页
• 语种: 中文

摘要

采用悬空培养及离体培养的方式,观察玉米的根边缘细胞在铜离子胁迫下发生的形态、数量及存活率变化情况,结果表明,在玉米根长为32 mm的时候,边缘细胞的数量达到最大,为4125个,但其存活率此时最低.玉米的根边缘细胞随着铜离子浓度的增加,边缘细胞的数量发生变化.当处理浓度为50 μmol·L-1时,边缘细胞的死细胞数量达到758个(存活率为24.80％),随后铜离子处理浓度增加到100 μmol·L-1时,存活率降低了17.54％.玉米根边缘细胞的数量随着铜离子浓度的增加呈现出逐渐减少的趋势,而存活率逐渐降低,说明在重金属铜离子胁迫下,根边缘细胞的释放起到对根际区域的保护作用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李锋		23	453	12.0	21.0
2	陈英旭		222	10323	57.0	92.0
3	张曦		15	22	3.0	3.0
4	施积炎		36	864	16.0	29.0
5	刘婷婷		12	308	6.0	12.0