V-STARS摄影测量系统及其在抛物面天线测量中的应用

• 作者: 张强 赵艳 黄敏
• 来源期刊: 河北工业大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 天线 摄影测量 V-STARS 表面精度
• 年，卷（期）: 2012,（3）
• 页码范围: 6-9
• 分类号: TP319
• 字数: 1958字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-2373.2012.03.002

摘要

抛物面天线在通讯、遥感、气象观测、天文观测等领域得到广泛的应用,抛物面天线的表面精度对微波通信和观测的效率起着关键作用,本文基于V-STARTS摄影测量软件,在天线反射面上粘贴测量标志,通过摄影来测量天线表面曲线并建立起三维模型,这种方法简化并缩短了测量过程,降低了人为误差对测量精度的影响,有效的提高天线测量的精度和效率.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	赵艳	河北科技大学信息科学与工程学院	16	137	8.0	11.0
3	黄敏	河北科技大学信息科学与工程学院	5	27	3.0	5.0
4	张强	中国电子科技集团公司第五十四研究所	29	45	4.0	6.0