原文服务方: 电子产品可靠性与环境试验       
摘要:
随着器件尺寸的日益缩小,基于迁移率的传统载流子输运模型已不能很好地适用.以肖特基势垒遂穿晶体管[SBTT]为研究对象,用蒙特卡罗(Monte Carlo)方法建立了纳米尺寸器件中的载流子弹道输运模型,并得出了当沟长小于10nm,一定沟长的源漏电流与源漏电压的特性曲线,以及在一定的源漏电压下,沟长与源漏电流的特性曲线.
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文献信息
篇名 基于蒙特卡罗方法的器件弹道效应研究
来源期刊 电子产品可靠性与环境试验 学科
关键词 弹道输运 蒙特卡罗方法 散射 肖特基势垒遂穿晶体管
年,卷(期) 2012,(z1) 所属期刊栏目 计算机科学与技术
研究方向 页码范围 179-182
页数 分类号 TP391
字数 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1672-5468.2012.z1.045
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 张剑伟 3 8 1.0 2.0
2 孙念 1 0 0.0 0.0
3 唐明明 1 0 0.0 0.0
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研究主题发展历程
节点文献
弹道输运
蒙特卡罗方法
散射
肖特基势垒遂穿晶体管
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子产品可靠性与环境试验
双月刊
1672-5468
44-1412/TN
大16开
广州市增城区朱村街朱村大道西78号
1962-01-01
中文
出版文献量(篇)
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