京津科技辐射效应分析：理论假说与经验研究

• 作者: 孙久文 胡安俊 陈林
• 来源期刊: 科学学与科学技术管理
• 学科: 社会科学
• 关键词: 科技辐射效应 逆向辐射 VAR模型
• 年，卷（期）: 2012,（7）
• 所属期刊栏目: 区域发展
• 页码范围: 90-95
• 分类号: G322.7
• 语种: 中文

摘要

以京津为研究对象,在理论分析与经验归纳的基础上提出了科技辐射的强度与方向假说,并通过构建VAR模型,对理论假说进行了验证。VAR回归模型、脉冲响应和方差分解分析表明,京津科技辐射效应较弱,区域间存在科技辐射封闭与逆向辐射的特征。京津科技辐射特征并没有支持科技辐射的强度和方向假说。在此基础上,从提高科技辐射水平、畅通科技辐射渠道两个角度,提出了提升企业吸收能力、完善资本市场、建立创新网络和提升政府政策效用等建议。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孙久文	中国人民大学经济学院区域与城市经济研究所	234	2031	24.0	36.0
2	胡安俊	中国人民大学经济学院区域与城市经济研究所	12	111	5.0	10.0