磁敏感加权成像在创伤性颅脑损伤中的应用与研究

• 作者: 严福华 王晓阳 贾庆 高源统
• 来源期刊: 浙江医学
• 学科: 医学
• 关键词: 脑外伤 磁敏感加权成像 磁共振成像
• 年，卷（期）: 2012,（11）
• 所属期刊栏目: 论著
• 页码范围: 866-869
• 分类号: R4
• 字数: 3883字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-2785.2012.11.004

摘要

目的 探讨高分辨率磁敏感加权成像(SWI)在创伤性颅脑损伤检查中的应用价值.方法 将近年来收治的创伤性颅脑损伤患者根据临床格拉斯哥昏迷评分(GCS)分为轻度及中重度脑外伤.所有患者行CT平扫、常规MRI(T2WI、FLAIR)和SWI检查,观察统计各方法 所示患者脑内病灶的数量、部位,并进行统计学分析和比较.结果 所有患者中,SWI共检出病灶数1 364个,FLAIR、T2WI、CT分别检出病灶数为827、564、204个,SWI检出病灶数高于其他各种检查,差异均有统计学意义(均P =0.000);从浅部、深部至后颅窝,SWI检出病灶数均高于其他各种检查,差异有统计学意义(P=0.000);SWI检出的病灶数与GCS评分有明显相关性(P=0.000).结论 SWI技术简便易行,在创伤性颅脑损伤检查中可以准确、客观地检测出颅内病灶的数目和部位,对评估损伤的严重程度有重要的补充价值,较常规MRI与CT平扫具有明显的优势.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王晓阳	温州医学院附属第三医院放射科	5	25	3.0	5.0
2	高源统	温州医学院附属第三医院放射科	9	46	5.0	6.0
3	严福华	上海交通大学附属瑞金医院放射科	111	441	12.0	15.0
4	贾庆	温州医学院附属第三医院放射科	2	7	2.0	2.0