微电声器件纯音不良的深入剖析

• 作者: 吕为新
• 来源期刊: 电声技术
• 学科: 工学
• 关键词: 微电声器件 共振 纯音不良
• 年，卷（期）: 2012,（4）
• 所属期刊栏目: 器件与电路
• 页码范围: 22-24
• 分类号: TN64
• 字数: 1868字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-8684.2012.04.006

摘要

主要研究微电声器件阻尼系统的动态性及音膜胶的密封性与纯音不良的辩证关系,并以实例运用共振频率物理法则来论证,得出特殊状态下的阻尼及上音膜的胶水出现的局部断胶对纯音的影响是客观存在的.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吕为新	浙江新嘉联电子股份有限公司研发中心	2	1	1.0	1.0