纳米尺度自适应系统中的温度效应的应对

• 作者: 孙方敏
• 来源期刊: 国外科技新书评介
• 学科: 工学
• 关键词: 自适应系统 温度效应 纳米尺度 电路系统设计 电子元器件 工作性能
• 年，卷（期）: 2012,（6）
• 页码范围: 15-15
• 页数: 1页
• 分类号: TP273.2

摘要

各种电子元器件、电路和系统的工作性能都会不同程度地受到温度的影响。如何检测、控制和利用这一温度效应是一个好的电路系统设计必需要考虑的问题。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孙方敏	中国科学院电子学研究所	51	1	1.0	1.0