基于USB2.0的边界扫描测试控制器的设计

• 作者: 董涪鑫 颜学龙
• 来源期刊: 大众科技
• 学科: 工学
• 关键词: 边界扫描测试控制器 IEEE1149.1 USB
• 年，卷（期）: 2012,（3）
• 页码范围: 18-20
• 页数: 3页
• 分类号: TN702
• 字数: 1793字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1008-1151.2012.03.009

摘要

边界扫描测试技术是目前一种主流的可测性设计方法,它用特有的结构和检测方法克服了复杂数字电路板测试的技术障碍,深入研究了IEEE1149.1边界扫描标准,文章针对传统的边界扫描测试控制器的接口复杂度高,边界扫描测试控制器硬件复杂、成本高的缺点,提出了一种基于USB2.0接口的边界扫描测试控制器设计方案,设计USB接口电路及驱动程序;测试结果表明,该测试控制器产生的测试信号符合IEEE1149.1标准。同时该控制器具有硬件结构简洁,使用灵活,有较高的性价比的特点,有较好的应用前景。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	颜学龙	桂林电子科技大学电子工程与自动化学院	89	330	9.0	12.0
2	董涪鑫	桂林电子科技大学电子工程与自动化学院	1	1	1.0	1.0