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摘要:
文章在介绍半导体金锡焊料封装工艺的基础上,重点对金锡焊料、炉温曲线设置等工艺技术问题进行了深入研究.基于大量的金锡焊料真空焊接封装实验及理论分析,研究了器件气密封装技术.讨论了封焊夹具、管帽镀层、合金状态、封接面表面、压块、焊料厚度以及加热程序对焊接质量的影响.密封后的产品在经过环境试验和机械试验考核后,封装气密性能很好地满足要求.并且结合应用背景证明了所采用的合金及封装工艺的可行性.
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文献信息
篇名 真空炉金锡封焊
来源期刊 电子与封装 学科 工学
关键词 金锡焊料 真空 炉温曲线
年,卷(期) 2012,(10) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 1-2
页数 分类号 TN305.94
字数 1918字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 刘艳 7 17 3.0 3.0
2 陈凯 14 16 3.0 3.0
3 徐骁 1 3 1.0 1.0
4 陈洁民 2 4 1.0 2.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
金锡焊料
真空
炉温曲线
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子与封装
月刊
1681-1070
32-1709/TN
大16开
江苏无锡市惠河路5号(208信箱)
2002
chi
出版文献量(篇)
3006
总下载数(次)
24
总被引数(次)
9543
论文1v1指导