TDJ6型经纬仪行差和视差的调整

• 作者: 宋毓琼 张妍 熊瑛 龚云涛
• 来源期刊: 中国计量
• 学科: 工学
• 关键词: 行差 经纬仪 光学测微器 调整 视差 放大倍数 刻度 度盘
• 年，卷（期）: 2012,（2）
• 所属期刊栏目: 技术篇
• 页码范围: 121-121
• 分类号: TH761.1
• 字数: 896字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-9364.2012.02.073

摘要

行差是指度盘刻度值与测微器刻度值的符合程度,故测微器行差又称为放大倍数。检定行差的目的是检验光学测微器刻度值与度盘刻度值的符合程度。例如,当测微器的刻度范围为10′时,测微器从0′移动到10′,度盘的刻度是否也正好移动10′,如不符合