随机测试程序发生器的设计与实现

• 作者: 于伽 陈黎明 黑勇
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: 指令分类 随机指令测试 指令约束 覆盖率
• 年，卷（期）: 2012,（7）
• 页码范围: 103-106,111
• 分类号: TP302.1
• 语种: 中文

摘要

随机测试程序生成技术是当前处理器功能验证中一项重要的支撑技术.本设计面向一种专用指令集处理器FlexEngine,在指令集模型建立时,按功能分类,实现对处理器关键单元的选择性测试;引入ISS对指令执行的动态数据分析,增加了寄存器数据范围监控、死循环预警等指令约束.实验结果表明,本设计的选择性测试功能,能够在3000条程序的测试长度下,对关键模块达到超过90%的覆盖率,有效提高了测试效率.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	黑勇	中国科学院微电子研究所	86	477	11.0	16.0
2	陈黎明	中国科学院微电子研究所	27	83	5.0	7.0
3	于伽	中国科学院微电子研究所	2	12	2.0	2.0