线阵 CCD响应非均匀性的检测与校正

• 作者: 李振辉 杨宁
• 来源期刊: 长春大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 线阵CCD 非均匀性校正 最小二乘法
• 年，卷（期）: 2012,（6）
• 页码范围: 1468-1471
• 分类号: TN256
• 字数: 2034字
• 语种: 中文

摘要

通过分析线阵CCD响应的非均匀性,提出了一种用于线阵CCD的非均匀性检测系统,并给出了基于最小二乘法的校正算法.在不同辐照度下采集各像素的灰度值,用最小二乘法求出期望的辐照度与灰度的对应关系,计算出各像素的修正系数,得到线阵CCD的校正矩阵,并对各像素的实际灰度值进行修正.实验结果表明,校正前灰度偏差达6.1,校正后只有0.02889,有效的改善了线阵CCD响应的非均匀性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李振辉	长春理工大学机电工程学院	32	56	4.0	5.0
2	杨宁	长春理工大学机电工程学院	2	3	1.0	1.0