可见光面阵CCD响应非均匀性的检测与校正

• 作者: 刘妍妍 张瑜 李国宁 李洪祚
• 来源期刊: 液晶与显示
• 学科: 工学
• 关键词: 面阵CCD 响应度 非均匀性校正 两点校正算法
• 年，卷（期）: 2010,（5）
• 页码范围: 759-763
• 分类号: TN386.5
• 字数: 3815字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-2780.2010.05.031

摘要

通过分析可见光面阵CCD的响应非均匀性,提出了一种适用于所有面阵CCD的响应非均匀性检测系统.利用该检测系统对全帧型面阵CCD485进行了辐射定标,建立了面阵CCD485数字图像的灰度值和积分球出口处辐照度之间的响应关系,并描绘了响应度曲线.从定标采集得到的数字图像可以看出灰度值有明显的跳跃,响应非均匀性已经超过了5%,在微光拍照时将严重影响成像的质量,所以必须进行校正.根据面阵CCD响应度曲线来选择非均匀性校正算法,考虑到面阵CCD485的响应度为线性,这里采用了两点校正算法,求出面阵CCD各个像元的校正因子(增益和偏置),并存储到校正矩阵中,通过乘积加法运算把各个像元的信号校正成面阵CCD的平均信号值.实验结果表明,两点校正算法使面阵CCD485的响应非均匀性降低到原来的1/10左右,是一种实用有效的校正方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘妍妍	长春理工大学电子信息工程学院	32	166	6.0	12.0
2	李国宁	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	54	476	12.0	19.0
3	张瑜	长春理工大学电子信息工程学院	13	88	5.0	9.0
4	李洪祚	长春理工大学电子信息工程学院	66	340	10.0	16.0