分子筛调功柜可控硅多次烧毁故障分析及处理

• 作者: 廉克勐
• 来源期刊: 电工技术
• 关键词: 分子筛 晶闸管交流功率控制器 可控硅 通风散热 调动柜
• 年，卷（期）: 2012,（12）
• 所属期刊栏目: 技术交流
• 页码范围: 55-56
• 页数: 2页
• 字数: 1336字
• 语种: 中文

摘要

介绍一起分子筛调功柜可控硅多次击穿故障,分析故障原因,并提出更改分子筛炉膛温度高温跳车值、更换可控硅、改进调动柜等解决方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	廉克勐		6	1	1.0	1.0