Z扫描法测单壁碳纳米管薄膜非线性特性的研究

• 作者: 刘珂 朱攀 杨天新 桑梅 王晓龙
• 来源期刊: 激光与光电子学进展
• 学科: 工学
• 关键词: 测量 非线性光学 三阶非线性系数 Z扫描法 单壁碳纳米管薄膜 准确度
• 年，卷（期）: 2012,（9）
• 所属期刊栏目: 仪器,测量与计量
• 页码范围: 97-104
• 页数: 8页
• 分类号: TN247
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/LOP49.091202

摘要

为研究单壁碳纳米管(SWCNT)薄膜的二阶非线性光学性质,采用旋转涂覆法在石英玻片上制备出包含SWCNT和聚甲基丙烯酸甲酯(PMMA)的聚合物薄膜.测得薄膜的线性透射谱,并观察了薄膜的表面形貌.为提高测量SWCNT薄膜三阶非线性系数的准确度,研究了Z扫描法测量材料的非线性系数时相关参量变化对测量准确度的影响,并搭建Z扫描系统,研究了自制薄膜的三阶非线性光学性质.通过对实验数据的模拟和计算,得到自制碳纳米管薄膜的非线性吸收系数(β)、三阶非线性折射系数(γ)分别为-7.8×10-7 cm/W、-6.4×10-11 cm2/W,三阶非线性极化率为2.06×10-9 esu.证明SWCNT/PMMA薄膜具有较强的非线性光学特性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨天新		33	178	8.0	12.0
2	桑梅		16	57	5.0	7.0
3	刘珂		9	58	5.0	7.0
4	王晓龙		7	14	3.0	3.0
5	朱攀		8	36	4.0	6.0