碳纳米管薄膜电阻的热敏特性测试

• 作者: 朱长纯 田昌会 马强
• 来源期刊: 西安交通大学学报
• 关键词: 碳纳米管 薄膜电阻 热敏特性
• 年，卷（期）: 2003,（8）
• 所属期刊栏目: 研究简讯
• 页码范围: 876-877
• 页数: 2页
• 分类号: TN304.18|TN104.3
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-987X.2003.08.026

摘要

针对单根碳纳米管测试的困难,用丝网印刷的方法制作了一种碳纳米管薄膜电阻.测量其热敏特性表明:其阻值随温度有明显的变化,并具有线性关系,通过线性拟合计算得到其电阻率温度系数为-4.79×10-6 Ω *m/℃.研究结果表明,碳纳米管可望作为一种特殊的温度传感器用在功能服装中.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	朱长纯	西安交通大学电子与信息工程学院	215	2372	22.0	41.0
2	马强	西安交通大学电子与信息工程学院	53	252	7.0	14.0
3	田昌会	西安交通大学电子与信息工程学院	10	55	4.0	7.0