高频状态下的圆孔屏蔽效能经验公式

• 作者: 卢伟 王俊元
• 来源期刊: 电子测试
• 学科: 工学
• 关键词: 孔洞 电磁屏蔽 ansys 屏蔽效能
• 年，卷（期）: 2012,（6）
• 所属期刊栏目: 设计与研发
• 页码范围: 1-4,24
• 页数: 5页
• 分类号: TM2
• 字数: 1753字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-8519.2012.06.001

摘要

电子设备电磁屏蔽效能的好环直接影响着屏蔽体内电子器件工作的稳定性，而电磁屏蔽体上的孔洞造成的电磁泄漏是一个不容忽视的问题。针对这个问题，对有孔洞的屏蔽体的电磁泄漏进行了仿真计算，定量分析孔洞大小对屏蔽外壳的屏蔽性能的影响。分析结果表明在屏蔽体壁厚保证的情况下，孔洞的直径越小，屏蔽效能越高。当孔洞的半径在10mm以下时，屏蔽效能在30dB以上，满足实际工程要求的屏蔽效能要求。并由此得到屏蔽效能经验公式。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王俊元	中北大学机械工程与自动化学院	144	696	13.0	19.0
2	卢伟	中北大学机械工程与自动化学院	2	11	2.0	2.0