PCR-膜芯片检测石蜡包埋组织中结核杆菌耐药基因突变

• 作者: 何敏 何晓 周昌明 李翠萍 胡水秀 谭景尹 郑艳燕 韦世录
• 来源期刊: 临床与实验病理学杂志
• 学科: 医学
• 关键词: 结核杆菌 石蜡包埋组织 膜芯片 耐药 基因突变
• 年，卷（期）: 2012,（8）
• 所属期刊栏目: 论著
• 页码范围: 895-899
• 分类号: R52
• 字数: 3919字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-7399.2012.08.015

摘要

目的 探讨PCR-膜芯片技术检测石蜡包埋组织中结核杆菌耐药基因突变的可行性及其在临床病理中的应用价值.方法 采集100例石蜡包埋的肺或淋巴结组织标本(临床诊断为结核患者80例,非结核患者20例),TB膜芯片检测标本中的结核杆菌IS6110基因,阳性者利用12对特异性引物进行多重PCR,扩增产物与含有59个探针的耐药-TB膜芯片反向点杂交检测结核杆菌耐药基因突变并测序验证.结果 TB膜芯片检测石蜡包埋组织标本中的结核杆菌IS6110基因,以临床诊断为标准时,灵敏度为52.5%(42/80),特异度为100%(20/20);以抗酸染色结果为标准时,灵敏度为90.5%(19/21),特异度为61.0%(36/59).耐药-TB膜芯片检测石蜡包埋组织结核杆菌耐药基因突变,在42例结核杆菌IS6110基因阳性的标本中,检出INH基因突变2例,RFP或SM基因突变各1例,INH、RFP和EMB基因同时突变1例,与测序结果基本符合,提示上述5例可能为耐药结核病.结论 应用PCR-膜芯片技术可提高石蜡包埋组织中结核杆菌基因的检出率,耐药-TB膜芯片检测结果可为耐药结核病的病理学诊断提供有价值的参考.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	周昌明		4	8	2.0	2.0
2	胡水秀		10	45	4.0	6.0
3	韦世录		1	4	1.0	1.0
4	何敏		1	4	1.0	1.0