浅析安捷伦最新非信令测试和LTE测试方案

• 作者: EDNChina[陆楠]
• 来源期刊: EDN CHINA 电子设计技术
• 学科: 工学
• 关键词: 非信令测试 E6607B EXT E6617 MPA E6621A PXT T4000S
• 年，卷（期）: 2012,（11）
• 所属期刊栏目: 设计策略
• 页码范围: 30-30
• 页数: 1页
• 分类号: TN929.5
• 字数: 1472字
• 语种: 中文

摘要

目前移动设备中的无线功能主要包括2G／3G／4G、蓝牙、Wi－Fi和GPS，而针对生产的测试需求，芯片组厂商在测试模式中添加了非信令功能以帮助生产测试节约时间。非信令测试中，待测设备（DUT）的芯片组在验证测试中会输出跨越不同功率和频率范围的各种信号，这些预定义发射的功能可以规范校准测试，缩减器件设置时间，进而缩减测试时间。