光谱发射率测量标准参考材料研究进展

• 作者: 于坤 刘玉芳 赵跃进
• 来源期刊: 光谱学与光谱分析
• 学科: 物理学
• 关键词: 光谱发射率 标准参考材料 Armco铁 碳化硅(SiC)
• 年，卷（期）: 2012,（11）
• 页码范围: 2911-2915
• 页数: 5页
• 分类号: O433.1
• 字数: 4606字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3964/j.issn.1000-0593(2012)11-2911-05

摘要

光谱发射率标准参考材料作为光谱发射率量值传递的载体,主要用于校准各种光谱发射率测量装置,提高光谱发射率测量装置的准确度.介绍了美国国家标准与技术研究院最早提出的标准参考材料及其光谱发射率数据,并详细分析了欧洲一些计量部门提出的潜在的标准参考材料的光谱发射率数据.针对近年来一些研究者提出的标准参考材料Armco铁和碳化硅(SiC),探讨了其作为光谱发射率标准的优点与不足.最后总结了光谱发射率标准参考材料所应具备的特征,并展望了光谱发射率测量标准未来的发展.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘玉芳	河南师范大学物理与信息工程学院	156	576	11.0	17.0
3	赵跃进	北京理工大学光电学院	73	640	13.0	21.0