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摘要:
维护中央处理器安全运行,提高系统的可靠性,保护数据的安全性是目前比较热点的问题.目前中央处理器主频不断提高,处理器工作温度也在不断升高.过高温度不仅对中央处理器内部造成永久性伤害,而且使中央处理器效能降低,同时加速中央处理器的老化,由此破坏系统的稳定性.通过对中央处理器过热形成电子迁移现象,导致金属表面形成坑洞或土丘,造成不可逆转的永久性伤害,最终损坏处理器的原理分析,研究控制中央处理器温度的硬件策略.
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文献信息
篇名 基于硬件策略控制中央处理器温度的研究
来源期刊 计算机安全 学科 工学
关键词 硬件策略 中央处理器 温度控制
年,卷(期) 2012,(1) 所属期刊栏目 学术技术
研究方向 页码范围 49-51
页数 分类号 TP332
字数 2665字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1671-0428.2012.01.015
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作者信息
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1 魏绍蓉 12 68 4.0 8.0
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研究主题发展历程
节点文献
硬件策略
中央处理器
温度控制
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
计算机安全
月刊
1671-0428
11-4647/TP
大16开
北京市海淀区万寿路27号
82-27
2001
chi
出版文献量(篇)
6030
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9
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