铝丝阵Z箍缩电子温度径向轮廓研究

• 作者: 刘利锋 毋玉芬 肖沙里 阳庆国 鲁建
• 来源期刊: 中国激光
• 学科: 物理学
• 关键词: 光谱学 X射线光谱 均匀色散 电子温度 温度轮廓
• 年，卷（期）: 2012,（8）
• 所属期刊栏目: 光谱学
• 页码范围: 206-209
• 页数: 4页
• 分类号: O436
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/CJL201239.0815001

摘要

利用均匀色散云母弯晶分析器,在“阳”加速器上测量了铝丝阵Z箍缩等离子体的时间积分X射线光谱.采用碰撞辐射模型,通过测量Al的Lyα/He-α以及Ly-β/He-ε的强度比推断出平均电子温度,分别为512 eV和489 eV.针对记录的连续辐射,由连续谱斜率拟合得到了等离子体核心电子温度为1215 eV.对圆柱箍缩温度径向轮廓的研究表明,此次聚爆实验的电子温度从箍缩轴心向外缘近似线性降低.谱线强度比法是诊断平均电子温度的有效手段,而连续谱拟合法为诊断铝丝阵箍缩核心区的等离子体电子温度提供了重要信息.