基于MSP430的电路测试系统

• 作者: 向高林 周明 杨虹 陈立昱
• 来源期刊: 电子质量
• 关键词: MSP430 硬件实验平台 参数测量 低功耗
• 年，卷（期）: 2012,（7）
• 所属期刊栏目: 绿色质量观察
• 页码范围: 29-31,34
• 页数: 4页
• 分类号: TP274
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-0107.2012.07.011

摘要

该文设计一种基于MSP430的电路测试系统。该系统集成硬件实验平台和电路参数测量平台于一体,克服传统电路实验平台的实现功能单一性与参数测量过程的繁琐性。系统具有便携、低功耗、易操作、经济等特点。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨虹	重庆邮电大学光电工程学院	106	285	8.0	10.0
2	向高林	重庆邮电大学光电工程学院	14	66	5.0	7.0
3	周明	重庆邮电大学光电工程学院	2	1	1.0	1.0
4	陈立昱	重庆邮电大学光电工程学院	2	1	1.0	1.0