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摘要:
采用一步射频磁控溅射法在室温获得了CIGS薄膜,研究了不同的真空无硒退火温度(150~350。C)对CIGs薄膜相变历程的影响。薄膜相变历程中的结构和性能采用XRD、SEM、EDS、紫外一可见光吸收和四探针等测试手段进行测试表征。结果表明,室温下制备的CIGS薄膜为非晶态,随退火温度升高发生非晶CIGS→,CuSe→,CIGS的相变。150℃退火形成的CuSe薄膜的电阻率最低,光透过性能最差。退火温度超过200。C便生成CIGS相,C1GS相的结晶质量随退火温度升高而改善,薄膜的电阻率和光透过率也随退火温度的提高而增加。
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文献信息
篇名 非晶CIGS前驱膜无硒退火的相变历程
来源期刊 功能材料 学科 工学
关键词 退火温度 射频磁控溅射 CIGS薄膜 相变历程
年,卷(期) 2012,(21) 所属期刊栏目 研究与开发
研究方向 页码范围 2902-2905,2911
页数 5页 分类号 O782|TK514
字数 2527字 语种 中文
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1001-9731
50-1099/TH
16开
重庆北碚区蔡家工业园嘉德大道8号
78-6
1970
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