稻纵卷叶螟危害孕穗期水稻的光谱诊断

• 作者: 刘向东 孙启花
• 来源期刊: 中国农业科学
• 关键词: 水稻 稻纵卷叶螟 卷叶率 危害程度 光谱反射率 诊断模型
• 年，卷（期）: 2012,（24）
• 所属期刊栏目: 植物保护
• 页码范围: 5040-5048
• 语种: 中文
• DOI: 10.3864/j.issn.0578-1752.2012.24.009

摘要

[目的]阐明稻纵卷叶螟(Cnaphalocrocis medinalis)危害孕穗期水稻后,水稻冠层、未受害展开叶和受害已卷叶片的光谱特征,建立基于光谱参数的稻纵卷叶螟危害程度的诊断模型.[方法]利用便携式光谱仪测定不同卷叶率小区水稻的冠层光谱反射率,同时在不同卷叶率小区内采集未受害展开叶和已卷叶带回实验室进行室内单叶的光谱反射率测定,并采用相关分析与回归建模方法组建稻纵卷叶螟危害程度的光谱诊断模型.[结果]水稻冠层光谱反射率在近红外光区域内随卷叶率级别的升高而降低,738-1 000 nm处的反射率可较好地表征出水稻受稻纵卷叶螟危害的程度.不同卷叶率小区内的未受害叶的光谱反射率也可很好地表征水稻的受害级别,在512-606和699-1 000 nm处的反射率与小区卷叶率级别呈极显著的负相关.已受害卷叶的反射率在582-688 nm处与受害级别呈极显著正相关.水稻受稻纵卷叶螟危害后,在冠层、未受害叶及已受害卷叶光谱的红边幅值与红边面积有明显变化.利用水稻冠层光谱的红边幅值、未受害健康叶片550 nm处的反射率建立的稻纵卷叶螟危害程度的一元回归模型的诊断误差较小,而同时利用冠层、受害叶和未受害叶光谱组建的逐步回归模型的诊断误差最小,可用于小区稻纵卷叶螟危害的监测.[结论]受害区域内水稻冠层在738-1 000 nm处和未受害叶片在512-606和699-1 000 nm处的光谱反射率,以及红边幅值和红边面积均可较好地表征水稻受稻纵卷叶螟危害后的卷叶率级别,可利用这两层次的光谱指标分别对小区水稻的受害程度进行诊断.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘向东	南京农业大学植物保护学院昆虫学系	44	1092	19.0	32.0
2	孙启花	南京农业大学植物保护学院昆虫学系	1	9	1.0	1.0