252Cf源驱动功率谱密度法测量系统

• 作者: 任勇 冯鹏 叶岑明 李建胜 魏彪
• 来源期刊: 强激光与粒子束
• 学科: 工学
• 关键词: 2522Cf源驱动 功率谱密度 中子检测 数据处理 核参数测量
• 年，卷（期）: 2012,（1）
• 所属期刊栏目: 料子束技术
• 页码范围: 215-219
• 分类号: TL82|TP274
• 字数: 3422字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/HPLPB20122401.0215

摘要

介绍了252Cf源驱动功率谱密度法测量原理,采用硬件和软件相结合的方式构建实现了一种实际的测量系统和研究平台,以服务于反应堆核参数测量.描述了基于3通道、1 GHz采样率和1 ns同步精度的超高速数据采集卡的中子脉冲序列检测方法,并设计了PC机端的数据处理流程和功率谱密度分析算法.实际测量结果表明,该252Cf源驱动功率谱密度法测量系统能准确高效地得到核随机过程的相关函数和功率谱密度等重要标签参数.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李建胜	中国工程物理研究院核物理与化学研究所	25	70	5.0	7.0
2	魏彪	重庆大学光电技术及系统教育部重点实验室	111	658	12.0	19.0
3	叶岑明	中国工程物理研究院核物理与化学研究所	10	13	2.0	3.0
4	任勇	重庆大学通信工程学院	33	180	9.0	11.0
5	冯鹏	重庆大学光电技术及系统教育部重点实验室	65	390	12.0	16.0