面向IC装备功能仿真平台的多模式测试方法

• 作者: 冯涓 李春光 田凌 许霞 黄利平
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: 功能测试 多模式测试 IC装备 逻辑指令序列
• 年，卷（期）: 2012,（11）
• 所属期刊栏目: 自动化测试技术
• 页码范围: 2900-2902
• 页数: 3页
• 分类号: TP306
• 语种: 中文

摘要

为了实现全面对IC装备以及装备功能仿真平台进行功能测试,通过分析装备命令响应特点,提出了包含单指令测试、逻辑指令序列测试以及随机指令序列测试的多模式测试方法；单指令测试验证设备以及由相关设备组成的系统的单指令响应正确性；逻辑指令序列从控制系统角度验证设备或系统的连续动态运行性能；随机指令序列测试验证设备或系统的动态随机响应性能；实际应用表明,提出的测试方法可以满足IC装备功能仿真平台的测试需求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	田凌	清华大学精密仪器与机械学系	76	1094	17.0	30.0
2	黄利平	清华大学精密仪器与机械学系	25	507	14.0	22.0
3	李春光	清华大学精密仪器与机械学系	5	33	3.0	5.0
4	许霞	清华大学精密仪器与机械学系	2	1	1.0	1.0
5	冯涓	清华大学精密仪器与机械学系	16	166	5.0	12.0