大功率IGBT击穿故障分析及驱动保护电路设计

• 作者: 张伟光 张广智 李全熙 王琳琳 赵伟华
• 来源期刊: 科技创新导报
• 学科: 物理学
• 关键词: 击穿 驱动 保护
• 年，卷（期）: 2012,（35）
• 所属期刊栏目: 创新技术
• 页码范围: 29-30
• 页数: 2页
• 分类号: O453
• 字数: 2822字
• 语种: 中文

摘要

该文通过对IGBT组成的H桥在大功率高速开关条件下进行大量实验,列举了IGBT发生击穿故障的多种原因,结合IGBT器件的结构分析其击穿过程及击穿表现,并通过计算提出了一种输出波形稳定的IGBT驱动电路以及相应的保护电路。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张伟光	哈尔滨师范大学物理与电子工程学院	31	34	3.0	4.0
2	张广智	哈尔滨师范大学物理与电子工程学院	4	5	1.0	2.0
3	王琳琳	哈尔滨师范大学物理与电子工程学院	11	5	1.0	2.0
4	赵伟华	哈尔滨师范大学物理与电子工程学院	3	4	1.0	2.0