SiO2泡沫微球密度精密检测技术研究

• 作者: 孟婕 马小军 高党忠
• 来源期刊: 核聚变与等离子体物理
• 学科: 工学
• 关键词: SiO2泡沫微球 密度检测 垂直扫描干涉 折射率 惯性约束聚变
• 年，卷（期）: 2013,（1）
• 所属期刊栏目: 等离子体应用
• 页码范围: 88-91
• 页数: 4页
• 分类号: TL67
• 字数: 1934字
• 语种: 中文

摘要

根据垂直扫描干涉技术结合样品折射率与密度间的依赖关系,建立了低密度SiO2泡沫微球密度的检测方法,用Lorentz-Lorenz和Gladstone-Dale公式分析了SiO2泡沫微球折射率与密度间的依赖关系.实验结果和测量误差估计表明,利用垂直扫描干涉技术并结合Gladstone-Dale分析方法,可实现对低密度SiO2泡沫微球密度的精密检测,其测量误差好于5％.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	马小军	中国工程物理研究院激光聚变研究中心	36	107	5.0	8.0
2	高党忠	中国工程物理研究院激光聚变研究中心	44	290	11.0	15.0
3	孟婕	中国工程物理研究院激光聚变研究中心	6	19	2.0	4.0