基于“神光Ⅱ”装置的四分幅X射线K-B显微成像系统

• 作者: 董佳钦
• 来源期刊: 中国工程物理研究院科技年报
• 学科: 工学
• 关键词: X射线条纹相机 显微成像系统 分幅相机 神光Ⅱ 装置 针孔阵列 时空分辨率 诊断技术
• 年，卷（期）: 2013,（1）
• 页码范围: 45-46
• 页数: 2页
• 分类号: TP79

摘要

X射线时空分辨率成像是ICF相关实验研究中的最重要诊断技术之一。X射线的时间分辨能力主要依托于X射线条纹相机、分幅相机两种设备来实现。配合针孔阵列、多通道Kirkpatrick—Baez（KB）显微镜或球面弯晶阵列等X射线多幅成像元件，分幅相机可以对样品进行二维空间、多个时刻的状态诊断。