X射线荧光光谱法分析电解质中氧化铝

• 作者: 张亚平 耿昭
• 来源期刊: 中国无机分析化学
• 学科: 化学
• 关键词: X射线荧光光谱法 铝电解质 三氧化二铝
• 年，卷（期）: 2013,（z1）
• 所属期刊栏目: 冶金与材料
• 页码范围: 43-45
• 页数: 3页
• 分类号: O657.34|TH744.15
• 字数: 2643字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.2095-1035.2013.z1.015

摘要

采用粉末压片法建立了X射线荧光光谱法测定铝电解质中氧元素含量的方法,通过测定氧元素来计算三氧化二铝的含量；重点讨论了样品前处理、粉料颗粒度、保压时间、压片压力等对于超轻元素的粉末压片制样的影响因素,同时采用二点法对氧元素进行背景扣除,运用固定α系数法校正基体效应；方法的相对标准偏差RSD低于2.00％,方法的检出限为163 mg/kg,相对分析误差控制在3％以下,误差控制在电解质中氧化铝质量控制允许的范围之内.方法用来分析铝电解质中氧化铝组分含量,结果准确,符合生产要求.方法简单、快速、灵敏,能够作为铝电解质中氧化铝的有效检测手段.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	耿昭	青海桥头铝电有限股份公司中心化验室	2	4	1.0	2.0
2	张亚平	青海桥头铝电有限股份公司中心化验室	2	4	1.0	2.0