氢氟酸直接进样-电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)测定氧化锆中多种杂质元素

• 作者: 孙友宝 李剑 端裕树 谷口理 陈建立 马晓玲 黄涛宏
• 来源期刊: 中国无机分析化学
• 学科: 化学
• 关键词: 矿石 氢氟酸直接进样 氧化锆 杂质元素 ICP-AES
• 年，卷（期）: 2013,（z1）
• 所属期刊栏目: 冶金与材料
• 页码范围: 31-32
• 页数: 2页
• 分类号: O657.31|TH744.11
• 字数: 1434字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.2095-1035.2013.z1.011

摘要

采用氢氟酸微波消解法前处理氧化锆材料,使用氢氟酸进样系统,不需要赶酸直接测定GBW06602氧化锆标准样品中的多元素含量,根据样品情况确定了最佳分析条件和最佳分析谱线.实验结果表明,测定元素线性关系及重复性良好,定量准确,可同时测定氧化锆中的多种金属元素,该方法检出限低,精密度高,分析结果与标准值相吻合,完全满足氧化锆中多元素杂质含量的工业分析要求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孙友宝		5	29	4.0	5.0
2	马晓玲		5	29	4.0	5.0
3	李剑		5	29	4.0	5.0
4	陈建立		5	29	4.0	5.0
5	黄涛宏		7	35	5.0	5.0
6	端裕树		4	21	3.0	4.0