微带线的电磁耦合特性分析及实验验证

• 作者: 刘起坤 周东方 彭强 王利萍 韩晨 饶育萍
• 来源期刊: 信息工程大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 微带线 耦合特性 BLT方程 终端响应 峰值电压
• 年，卷（期）: 2013,（1）
• 所属期刊栏目: 通信工程与技术
• 页码范围: 36-41
• 页数: 6页
• 分类号: TN011.2
• 字数: 3338字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-0673.2013.01.006

摘要

为分析不同入射方式下的电磁波与微带线的耦合特性问题,将PCB板上微带线等效为有耗传输线模型,对辐照平面波进行矢量分析并求解等效激励源,利用BLT方程计算不同入射方式下的电磁波与微带线的耦合终端响应,针对仿真结果开展效应实验验证,仿真与实验结果吻合较好.研究表明,BLT方程可有效地解决电磁波与微带线的耦合问题,当电场平行于微带线或垂直于PCB平面入射时,可产生较强的耦合,且平行入射情况比垂直PCB入射情况在微带线终端激励起的峰值电压大一倍；幅度为1v/m的电场在微带线上激励的峰值电压可达到mV量级.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	周东方	信息工程大学信息系统工程学院	101	428	10.0	15.0
2	王利萍	信息工程大学信息系统工程学院	8	22	3.0	4.0
3	韩晨	信息工程大学信息系统工程学院	3	10	2.0	3.0
4	刘起坤	信息工程大学信息系统工程学院	13	34	4.0	5.0
5	饶育萍	信息工程大学信息系统工程学院	5	16	2.0	4.0
6	彭强	信息工程大学信息系统工程学院	3	15	2.0	3.0