浅析“背跃”效应

• 作者: 宋凯
• 来源期刊: 电子质量
• 关键词: A/D采样 量化电平 增益
• 年，卷（期）: 2013,（3）
• 所属期刊栏目: 电磁兼容
• 页码范围: 77-78
• 页数: 2页
• 分类号: TN95
• 语种: 中文

摘要

该文讨论了当存在较大噪声时,小于A/D采样器量化电平的信号,通过A/D采样后能够在数字域被恢复出来的现象.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	宋凯	中国电子科技集团公司第二十研究所	4	0	0.0	0.0