纵波超声相控阵技术对缺陷的成像和定量模拟

• 作者: C. Sridhar C.V. Krishnamurthy L. Satyanarayan
• 来源期刊: 国外核动力
• 学科: 工学
• 关键词: 缺陷定量 相控阵超声 周向表面裂纹 FDTD RATT
• 年，卷（期）: 2013,（4）
• 页码范围: 43-49
• 页数: 7页
• 分类号: TG115.28
• 语种: 中文

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	L. Satyanarayan	印度理工学院无损评价与机械工程中心	1	0	0.0	0.0
2	C. Sridhar	印度理工学院无损评价与机械工程中心	1	0	0.0	0.0
3	C.V. Krishnamurthy	印度理工学院无损评价与机械工程中心	1	0	0.0	0.0