基于单片机的半导体禁带宽度测定

• 作者: 张秀民
• 来源期刊: 徐州工程学院学报（自然科学版）
• 学科: 物理学
• 关键词: 半导体 禁带宽度 PN结 单片机
• 年，卷（期）: 2013,（4）
• 所属期刊栏目: 理论研究
• 页码范围: 39-42
• 页数: 4页
• 分类号: O471
• 字数: 3143字
• 语种: 中文

摘要

针对采用光学法、电学法测量半导体禁带宽度时操作与数据计算都不够简便的问题,依据半导体物理学的基本规律:由半导体材料组成的PN结其正向电压VF和温度T在一定条件下具有高度的线性相关,利用常用物理实验仪器采集PN结的电压和温度信号,并加以放大和转换;单片机自动采集、存储、线性化放大和转换后的电压和温度信号,计算后显示测量结果.测量结果较准确、测量误差较小,用单片机对禁带宽度的实际测量可行、简便.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张秀民		8	4	2.0	2.0