X-射线荧光光谱分析法测定工业硅中钙、铁、铝的研讨

• 作者: 杨振华 王恒玉 颜玉美
• 来源期刊: 现代测量与实验室管理
• 学科: 物理学
• 关键词: S4型X-射线荧光光谱分析仪 工业硅
• 年，卷（期）: 2013,（2）
• 页码范围: 10-11
• 分类号: O434.13
• 字数: 1331字
• 语种: 中文

摘要

本文简要论述了X-射线荧光光谱仪分析法分析工业硅中钙铁铝的分析方法原理、样品处理、样品制备、谱线扫描条件;在X-射线荧光分析仪上分析工业硅中钙铁铝元素含量,从而缩短样品的分析时间,减少样品的分析费用.