HL-2A等离子体破裂期间逃逸电子演化模拟

• 作者: 吴娜 张轶泼 桑超峰 王中天 王德真
• 来源期刊: 核聚变与等离子体物理
• 关键词: 逃逸电子 环向电场 等离子体破裂 HL-2A装置
• 年，卷（期）: 2013,（4）
• 所属期刊栏目: 等离子体物理学
• 页码范围: 297-303
• 页数: 7页
• 分类号: 0532+11
• 字数: 5628字
• 语种: 中文

摘要

采用数值模拟方法对托卡马克等离子体破裂期间的逃逸电子(RE)演化行为进行研究。程序所使用的物理模型包含了初级和次级两种RE产生机制，并耦合了麦克斯韦方程组。模拟结果显示：在等离子体破裂开始0.1~0.2ms后感应产生了很强的环向电场，持续约0.1ms之后该环向电场达到最大值，但是在大致2.5ms内逐渐衰减。同时模拟结果也证明了RE产生于等离子体中心处的局部区域，并且在破裂之后约1ms时间内就形成了RE束，实验中等离子体破裂之后出现的几十毫秒的电流平台主要是由RE携带的。从理论模拟与实验的对比中可以得出：HL-2A 15335次放电等离子体破裂期间欧姆电流转化为逃逸电流(RC)的转化率在40%~60%。次级产生机制在RE束的形成过程当中起到了关键作用。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王德真	大连理工大学物理与光电工程学院	44	399	13.0	18.0
2	吴娜	大连理工大学物理与光电工程学院	7	50	4.0	7.0
3	张轶泼		4	6	2.0	2.0
4	王中天		3	5	2.0	2.0
5	桑超峰	大连理工大学物理与光电工程学院	5	9	2.0	3.0